συσκευή μέτρησης πάχους στρώσηςHelmut Fischer FISCHERSCOPE
XDL-XYZpT8 Röntgenfluoreszenz
συσκευή μέτρησης πάχους στρώσης
Helmut Fischer FISCHERSCOPE
XDL-XYZpT8 Röntgenfluoreszenz
σταθερή τιμή συν ΦΠΑ
3.500 €
Κατάσταση
Μεταχειρισμένο
Τοποθεσία
Borken 

Στοιχεία για το μηχάνημα
- Ονομασία μηχανήματος:
- συσκευή μέτρησης πάχους στρώσης
- Κατασκευαστής:
- Helmut Fischer FISCHERSCOPE
- Μοντέλο:
- XDL-XYZpT8 Röntgenfluoreszenz
- Κατάσταση:
- μεταχειρισμένο
Τιμή & Τοποθεσία
σταθερή τιμή συν ΦΠΑ
3.500 €
- Τοποθεσία:
- Einsteinstraße 8a, 46325 Borken, Deutschland

Καλέστε
Λεπτομέρειες προσφοράς
- Αναγνωριστικό αγγελίας:
- A223-47057
- Αριθμός αναφοράς:
- 25371
- Ενημέρωση:
- τελευταία στις 16.07.2026
Περιγραφή
Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDL-XYZpT8 – Όργανο μέτρησης πάχους στρώματος με φθορισμό ακτίνων Χ
Κατασκευαστής: Helmut Fischer GmbH + Co. KG, Γερμανία
Τύπος: XDL-XYZpT8
Μοντέλο: FISCHERSCOPE X-RAY
Τύπος μηχανήματος: Όργανο μέτρησης φθορισμού ακτίνων Χ / Όργανο μέτρησης πάχους στρώματος (XRF / RFA)
Προς πώληση, ένα μεταχειρισμένο όργανο μέτρησης φθορισμού ακτίνων Χ από τον κατασκευαστή Helmut Fischer GmbH + Co. KG.
Το FISCHERSCOPE X-RAY είναι κατάλληλο για μη καταστροφική μέτρηση πάχους στρώματος και ανάλυση υλικών μέσω φθορισμού ακτίνων Χ (XRF/RFA). Το σύστημα έχει σχεδιαστεί για μετρήσεις λειτουργικών στρωμάτων, αντιδιαβρωτικών στρωμάτων, καθώς και διαφόρων μεταλλικών επικαλύψεων και χρησιμοποιείται στον ποιοτικό έλεγχο, την επιμετάλλωση, την τεχνολογία επιφανειών, την έρευνα και τα εργαστήρια.
Η συσκευή προέρχεται από εκκαθάριση αποθήκης και πωλείται ρητά χωρίς έλεγχο και χωρίς εγγύηση.
Τεχνικά χαρακτηριστικά:
Κατασκευαστής: Helmut Fischer GmbH + Co. KG
Μοντέλο: FISCHERSCOPE X-RAY
Τύπος: XDL-XYZpT8
Αριθμός σειράς: SN010002436
Κατασκευασμένο στη Γερμανία
Διαθέτει σήμανση CE
Σύστημα μέτρησης: Φθορισμός ακτίνων Χ (XRF / RFA)
Θάλαμος μέτρησης με σχισμή C
Τυπική σωλήνα ακτίνων Χ
Αναλογικός μετρητής
Σταθερό διάφραγμα και σταθερό φίλτρο
Διαδρομή DCM: 0–80 mm
Τάση τροφοδοσίας: 230 V AC
Συχνότητα: 50–60 Hz
Κατανάλωση ισχύος: 120 W
Εξοπλισμός:
Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDL-XYZpT8
Θάλαμος μέτρησης με προστατευτικό κάλυμμα
Λογισμικό
Εγχειρίδιο χρήσης
Σύνδεση δικτύου
Σειριακή διεπαφή (Sub-D)
Πρόσθετα αξεσουάρ όπως φαίνονται στις εικόνες
Πεδία εφαρμογής:
Μέτρηση πάχους στρώματος
Ανάλυση υλικών
Ανάλυση φθορισμού ακτίνων Χ (XRF)
Ποιοτικός έλεγχος
Επιμετάλλωση
Τεχνολογία επιφανειών
Έλεγχος υλικών
Εργαστήριο
Έρευνα και ανάπτυξη
Κατάσταση:
Hsdpjzl Ulvefx Af Sefi
Μεταχειρισμένο / Used.
Η συσκευή προέρχεται από εκκαθάριση αποθήκης.
Οπτική κατάσταση σύμφωνα με τις εικόνες.
Η συσκευή δεν έχει ελεγχθεί από εμάς και πωλείται ρητά χωρίς έλεγχο και χωρίς εγγύηση.
Περιεχόμενα συσκευασίας:
Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDL-XYZpT8
Λογισμικό
Εγχειρίδιο χρήσης
Πρόσθετα αξεσουάρ όπως φαίνονται στις εικόνες
Περιεχόμενα συσκευασίας όπως απεικονίζονται.
Διατηρούμε το δικαίωμα αλλαγών, σφαλμάτων και ενδιάμεσων πωλήσεων.
Η αγγελία μεταφράστηκε αυτόματα. Ενδέχεται να υπάρχουν σφάλματα μετάφρασης.
Κατασκευαστής: Helmut Fischer GmbH + Co. KG, Γερμανία
Τύπος: XDL-XYZpT8
Μοντέλο: FISCHERSCOPE X-RAY
Τύπος μηχανήματος: Όργανο μέτρησης φθορισμού ακτίνων Χ / Όργανο μέτρησης πάχους στρώματος (XRF / RFA)
Προς πώληση, ένα μεταχειρισμένο όργανο μέτρησης φθορισμού ακτίνων Χ από τον κατασκευαστή Helmut Fischer GmbH + Co. KG.
Το FISCHERSCOPE X-RAY είναι κατάλληλο για μη καταστροφική μέτρηση πάχους στρώματος και ανάλυση υλικών μέσω φθορισμού ακτίνων Χ (XRF/RFA). Το σύστημα έχει σχεδιαστεί για μετρήσεις λειτουργικών στρωμάτων, αντιδιαβρωτικών στρωμάτων, καθώς και διαφόρων μεταλλικών επικαλύψεων και χρησιμοποιείται στον ποιοτικό έλεγχο, την επιμετάλλωση, την τεχνολογία επιφανειών, την έρευνα και τα εργαστήρια.
Η συσκευή προέρχεται από εκκαθάριση αποθήκης και πωλείται ρητά χωρίς έλεγχο και χωρίς εγγύηση.
Τεχνικά χαρακτηριστικά:
Κατασκευαστής: Helmut Fischer GmbH + Co. KG
Μοντέλο: FISCHERSCOPE X-RAY
Τύπος: XDL-XYZpT8
Αριθμός σειράς: SN010002436
Κατασκευασμένο στη Γερμανία
Διαθέτει σήμανση CE
Σύστημα μέτρησης: Φθορισμός ακτίνων Χ (XRF / RFA)
Θάλαμος μέτρησης με σχισμή C
Τυπική σωλήνα ακτίνων Χ
Αναλογικός μετρητής
Σταθερό διάφραγμα και σταθερό φίλτρο
Διαδρομή DCM: 0–80 mm
Τάση τροφοδοσίας: 230 V AC
Συχνότητα: 50–60 Hz
Κατανάλωση ισχύος: 120 W
Εξοπλισμός:
Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDL-XYZpT8
Θάλαμος μέτρησης με προστατευτικό κάλυμμα
Λογισμικό
Εγχειρίδιο χρήσης
Σύνδεση δικτύου
Σειριακή διεπαφή (Sub-D)
Πρόσθετα αξεσουάρ όπως φαίνονται στις εικόνες
Πεδία εφαρμογής:
Μέτρηση πάχους στρώματος
Ανάλυση υλικών
Ανάλυση φθορισμού ακτίνων Χ (XRF)
Ποιοτικός έλεγχος
Επιμετάλλωση
Τεχνολογία επιφανειών
Έλεγχος υλικών
Εργαστήριο
Έρευνα και ανάπτυξη
Κατάσταση:
Hsdpjzl Ulvefx Af Sefi
Μεταχειρισμένο / Used.
Η συσκευή προέρχεται από εκκαθάριση αποθήκης.
Οπτική κατάσταση σύμφωνα με τις εικόνες.
Η συσκευή δεν έχει ελεγχθεί από εμάς και πωλείται ρητά χωρίς έλεγχο και χωρίς εγγύηση.
Περιεχόμενα συσκευασίας:
Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDL-XYZpT8
Λογισμικό
Εγχειρίδιο χρήσης
Πρόσθετα αξεσουάρ όπως φαίνονται στις εικόνες
Περιεχόμενα συσκευασίας όπως απεικονίζονται.
Διατηρούμε το δικαίωμα αλλαγών, σφαλμάτων και ενδιάμεσων πωλήσεων.
Η αγγελία μεταφράστηκε αυτόματα. Ενδέχεται να υπάρχουν σφάλματα μετάφρασης.
Αποστολή αιτήματος
Τηλέφωνο & Φαξ
+49 2861 ... αγγελίες
Η αγγελία σας διαγράφηκε με επιτυχία
Παρουσιάστηκε σφάλμα



















