συσκευή μέτρησης πάχους στρώσηςHelmut Fischer FISCHERSCOPE
XDL-XYZpT8 Röntgenfluoreszenz
συσκευή μέτρησης πάχους στρώσης
Helmut Fischer FISCHERSCOPE
XDL-XYZpT8 Röntgenfluoreszenz
Σταθερή τιμή συν ΦΠΑ
3.500 €
Κατάσταση
Μεταχειρισμένο
Τοποθεσία
Borken 

Στοιχεία για το μηχάνημα
- Ονομασία μηχανήματος:
- συσκευή μέτρησης πάχους στρώσης
- Κατασκευαστής:
- Helmut Fischer FISCHERSCOPE
- Μοντέλο:
- XDL-XYZpT8 Röntgenfluoreszenz
- Κατάσταση:
- μεταχειρισμένο
Τιμή & Τοποθεσία
Σταθερή τιμή συν ΦΠΑ
3.500 €
- Τοποθεσία:
- Einsteinstraße 8a, 46325 Borken, Deutschland

Καλέστε
Λεπτομέρειες προσφοράς
- Αναγνωριστικό αγγελίας:
- A223-47057
- Αριθμός αναφοράς:
- 25371
- Ενημέρωση:
- τελευταία στις 16.07.2026
Περιγραφή
Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDL-XYZpT8 – Όργανο μέτρησης πάχους στρώματος με φθορισμό ακτίνων Χ
Κατασκευαστής: Helmut Fischer GmbH + Co. KG, Γερμανία
Τύπος: XDL-XYZpT8
Μοντέλο: FISCHERSCOPE X-RAY
Τύπος μηχανήματος: Όργανο μέτρησης φθορισμού ακτίνων Χ / Όργανο μέτρησης πάχους στρώματος (XRF / RFA)
Προς πώληση, ένα μεταχειρισμένο όργανο μέτρησης φθορισμού ακτίνων Χ από τον κατασκευαστή Helmut Fischer GmbH + Co. KG.
Το FISCHERSCOPE X-RAY είναι κατάλληλο για μη καταστροφική μέτρηση πάχους στρώματος και ανάλυση υλικών μέσω φθορισμού ακτίνων Χ (XRF/RFA). Το σύστημα έχει σχεδιαστεί για μετρήσεις λειτουργικών στρωμάτων, αντιδιαβρωτικών στρωμάτων, καθώς και διαφόρων μεταλλικών επικαλύψεων και χρησιμοποιείται στον ποιοτικό έλεγχο, την επιμετάλλωση, την τεχνολογία επιφανειών, την έρευνα και τα εργαστήρια.
Bedezl Ulvjpfx Anuedg
Η συσκευή προέρχεται από εκκαθάριση αποθήκης και πωλείται ρητά χωρίς έλεγχο και χωρίς εγγύηση.
Τεχνικά χαρακτηριστικά:
Κατασκευαστής: Helmut Fischer GmbH + Co. KG
Μοντέλο: FISCHERSCOPE X-RAY
Τύπος: XDL-XYZpT8
Αριθμός σειράς: SN010002436
Κατασκευασμένο στη Γερμανία
Διαθέτει σήμανση CE
Σύστημα μέτρησης: Φθορισμός ακτίνων Χ (XRF / RFA)
Θάλαμος μέτρησης με σχισμή C
Τυπική σωλήνα ακτίνων Χ
Αναλογικός μετρητής
Σταθερό διάφραγμα και σταθερό φίλτρο
Διαδρομή DCM: 0–80 mm
Τάση τροφοδοσίας: 230 V AC
Συχνότητα: 50–60 Hz
Κατανάλωση ισχύος: 120 W
Εξοπλισμός:
Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDL-XYZpT8
Θάλαμος μέτρησης με προστατευτικό κάλυμμα
Λογισμικό
Εγχειρίδιο χρήσης
Σύνδεση δικτύου
Σειριακή διεπαφή (Sub-D)
Πρόσθετα αξεσουάρ όπως φαίνονται στις εικόνες
Πεδία εφαρμογής:
Μέτρηση πάχους στρώματος
Ανάλυση υλικών
Ανάλυση φθορισμού ακτίνων Χ (XRF)
Ποιοτικός έλεγχος
Επιμετάλλωση
Τεχνολογία επιφανειών
Έλεγχος υλικών
Εργαστήριο
Έρευνα και ανάπτυξη
Κατάσταση:
Μεταχειρισμένο / Used.
Η συσκευή προέρχεται από εκκαθάριση αποθήκης.
Οπτική κατάσταση σύμφωνα με τις εικόνες.
Η συσκευή δεν έχει ελεγχθεί από εμάς και πωλείται ρητά χωρίς έλεγχο και χωρίς εγγύηση.
Περιεχόμενα συσκευασίας:
Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDL-XYZpT8
Λογισμικό
Εγχειρίδιο χρήσης
Πρόσθετα αξεσουάρ όπως φαίνονται στις εικόνες
Περιεχόμενα συσκευασίας όπως απεικονίζονται.
Διατηρούμε το δικαίωμα αλλαγών, σφαλμάτων και ενδιάμεσων πωλήσεων.
Η αγγελία μεταφράστηκε αυτόματα. Ενδέχεται να υπάρχουν σφάλματα μετάφρασης.
Κατασκευαστής: Helmut Fischer GmbH + Co. KG, Γερμανία
Τύπος: XDL-XYZpT8
Μοντέλο: FISCHERSCOPE X-RAY
Τύπος μηχανήματος: Όργανο μέτρησης φθορισμού ακτίνων Χ / Όργανο μέτρησης πάχους στρώματος (XRF / RFA)
Προς πώληση, ένα μεταχειρισμένο όργανο μέτρησης φθορισμού ακτίνων Χ από τον κατασκευαστή Helmut Fischer GmbH + Co. KG.
Το FISCHERSCOPE X-RAY είναι κατάλληλο για μη καταστροφική μέτρηση πάχους στρώματος και ανάλυση υλικών μέσω φθορισμού ακτίνων Χ (XRF/RFA). Το σύστημα έχει σχεδιαστεί για μετρήσεις λειτουργικών στρωμάτων, αντιδιαβρωτικών στρωμάτων, καθώς και διαφόρων μεταλλικών επικαλύψεων και χρησιμοποιείται στον ποιοτικό έλεγχο, την επιμετάλλωση, την τεχνολογία επιφανειών, την έρευνα και τα εργαστήρια.
Bedezl Ulvjpfx Anuedg
Η συσκευή προέρχεται από εκκαθάριση αποθήκης και πωλείται ρητά χωρίς έλεγχο και χωρίς εγγύηση.
Τεχνικά χαρακτηριστικά:
Κατασκευαστής: Helmut Fischer GmbH + Co. KG
Μοντέλο: FISCHERSCOPE X-RAY
Τύπος: XDL-XYZpT8
Αριθμός σειράς: SN010002436
Κατασκευασμένο στη Γερμανία
Διαθέτει σήμανση CE
Σύστημα μέτρησης: Φθορισμός ακτίνων Χ (XRF / RFA)
Θάλαμος μέτρησης με σχισμή C
Τυπική σωλήνα ακτίνων Χ
Αναλογικός μετρητής
Σταθερό διάφραγμα και σταθερό φίλτρο
Διαδρομή DCM: 0–80 mm
Τάση τροφοδοσίας: 230 V AC
Συχνότητα: 50–60 Hz
Κατανάλωση ισχύος: 120 W
Εξοπλισμός:
Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDL-XYZpT8
Θάλαμος μέτρησης με προστατευτικό κάλυμμα
Λογισμικό
Εγχειρίδιο χρήσης
Σύνδεση δικτύου
Σειριακή διεπαφή (Sub-D)
Πρόσθετα αξεσουάρ όπως φαίνονται στις εικόνες
Πεδία εφαρμογής:
Μέτρηση πάχους στρώματος
Ανάλυση υλικών
Ανάλυση φθορισμού ακτίνων Χ (XRF)
Ποιοτικός έλεγχος
Επιμετάλλωση
Τεχνολογία επιφανειών
Έλεγχος υλικών
Εργαστήριο
Έρευνα και ανάπτυξη
Κατάσταση:
Μεταχειρισμένο / Used.
Η συσκευή προέρχεται από εκκαθάριση αποθήκης.
Οπτική κατάσταση σύμφωνα με τις εικόνες.
Η συσκευή δεν έχει ελεγχθεί από εμάς και πωλείται ρητά χωρίς έλεγχο και χωρίς εγγύηση.
Περιεχόμενα συσκευασίας:
Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDL-XYZpT8
Λογισμικό
Εγχειρίδιο χρήσης
Πρόσθετα αξεσουάρ όπως φαίνονται στις εικόνες
Περιεχόμενα συσκευασίας όπως απεικονίζονται.
Διατηρούμε το δικαίωμα αλλαγών, σφαλμάτων και ενδιάμεσων πωλήσεων.
Η αγγελία μεταφράστηκε αυτόματα. Ενδέχεται να υπάρχουν σφάλματα μετάφρασης.
Αποστολή αιτήματος
Τηλέφωνο & Φαξ
+49 2861 ... αγγελίες
Η αγγελία σας διαγράφηκε με επιτυχία
Παρουσιάστηκε σφάλμα



















