Μικροσκόπιο μέτρησης HITEC QZW 1, 400 x 250 mm

HITEC Messtechnik Messmikroskop QZW 1 M3 Software

Κατάσταση: πολύ καλή (μεταχειρισμένο), Λειτουργικότητα: πλήρως λειτουργικό, Προσφέρουμε το κορυφαίο μετρητικό μικροσκόπιο QZW 1 της HITEC, τύπος 250 x 170mm. Λογισμικό M3: αυτόματη αναγνώριση άκρων, έλεγχος ανοχών σύμφωνα με DIN/ISO, προβολή στοιχείων με εισαγωγή ανοχών, προβολή εξαρτημάτων με διαστάσεις, απεικόνιση ζωντανής εικόνας κατά τη διάρκεια της μέτρησης, επιπλέον αποθήκευση εικόνων για την τεκμηρίωσή σας. Dell Touch PC με Windows 10 (δυνατότητα αναβάθμισης σε 11), πιστοποιητικό βαθμονόμησης έως 31.07.2025 ΠΕΔΙΟ ΜΕΤΡΗΣΗΣ ΑΞΟΝΩΝ X, Y 250 x 170 mm ΣΦΑΛΜΑ ΜΕΤΡΗΣΗΣ ΜΗΚΟΥΣ 1,9 μm + L/100 (L σε mm) ΠΕΔΙΟ ΜΕΤΡΗΣΗΣ ΑΞΟΝΑ Z Gsdpfx Asxwb Hqsaljui 150 mm ΣΥΣΤΗΜΑ ΜΕΤΡΗΣΗΣ ΑΞΟΝΑ Z προαιρετικό ΚΑΜΕΡΑ USB 3.0 25 fps, 2,0 megapixel ΦΑΚΟΣ Σταθερός φακός / προαιρετικά μεταβλητός ζουμ 0,7x - 4,5x (χειροκίνητος/ηλεκτροκινούμενος) ΜΕΓΕΘΥΝΣΗ 40x ή 35x - 225x (με φακό ζουμ) ΟΠΤΙΚΟ ΠΕΔΙΟ 8 mm ή 9 mm - 1,5 mm (με φακό ζουμ) ΕΠΙΦΑΝΕΙΑΚΟΣ ΦΩΤΙΣΜΟΣ LED δακτύλιος 4 τμημάτων (προαιρετικά συνεστιασμένος φωτισμός) ΔΙΑΠΕΡΑΤΟΣ ΦΩΤΙΣΜΟΣ LED (προαιρετικά τηλεκεντρικός) LASER για βοήθεια στη στόχευση ΦΟΡΤΙΟ ΤΡΑΠΕΖΙΟΥ μέγιστο 20 kg ΠΕΡΙΕΧΟΜΕΝΑ ΠΑΡΑΔΟΣΗΣ QZW1, 23" touchscreen PC, λογισμικό M3, πιστοποιητικό βαθμονόμησης, εγχειρίδιο χρήσης Εφαρμογές Η σειρά QZW1 σας υποστηρίζει σε εξαιρετικά ακριβείς και επαναλαμβανόμενες μετρήσεις πολύπλοκων εξαρτημάτων από οποιοδήποτε υλικό. Με πλήθος επιλογών, όπως φακός ζουμ, διάφορα μήκη άξονα Z και διαφορετικά μεγέθη μετρητικών τραπεζιών, το QZW1 προσφέρει όλες τις δυνατότητες για να καλύψει τις μετρολογικές σας απαιτήσεις ανά εξάρτημα.