Μικροσκόπιο μέτρησης HITEC QZW 1, 250 × 170 mm

HITEC Messtechnik Messmikroskop QZW 1 M3 Software

Κατάσταση: πολύ καλή (μεταχειρισμένο), Λειτουργικότητα: πλήρως λειτουργικό, Προσφέρουμε ένα κορυφαίο μετρητικό μικροσκόπιο QZW 1 της HITEC, τύπος 400 x 250 mm. Λογισμικό M3: αυτόματη αναγνώριση ακμών, έλεγχος ανοχών σύμφωνα με DIN/ISO, προβολή στοιχείων με εισαγωγή ανοχών, προβολή εξαρτημάτων με διαστασιολόγηση, προβολή ζωντανής εικόνας κατά τη μέτρηση, επιπρόσθετη αποθήκευση εικόνων για την τεκμηρίωσή σας. Dell Touch PC με Windows 10 (δυνατότητα αναβάθμισης σε 11) Πιστοποιητικό διακρίβωσης μέχρι 31.07.2025 ΠΕΔΙΟ ΜΕΤΡΗΣΗΣ ΑΞΟΝΩΝ X και Y: 400 x 250 mm ΑΠΟΚΛΙΣΗ ΜΗΚΟΥΣ: 4 μm + L/100 (L σε mm) ΠΕΔΙΟ ΜΕΤΡΗΣΗΣ ΑΞΟΝΑ Z: 150 mm / προαιρετικά 350 mm Gusdpfx Aaexwb Dpslji ΣΥΣΤΗΜΑ ΜΕΤΡΗΣΗΣ ΑΞΟΝΑ Z: προαιρετικό ΚΑΜΕΡΑ: USB 3.0, 25 καρέ/δευτ., 2,0 megapixels ΦΑΚΟΣ: Σταθερός φακός / προαιρετικά φακός ζουμ 0,7x - 4,5x (χειροκίνητη/μηχανοκίνητη ρύθμιση) ΜΕΓΕΘΥΝΣΗ: 40x ή 35x - 225x (με φακό ζουμ) ΠΕΔΙΟ ΟΡΑΣΗΣ: 8 mm ή 9 mm - 1,5 mm (με φακό ζουμ) ΕΠΙΦΑΝΕΙΑΚΟΣ ΦΩΤΙΣΜΟΣ: LED δακτυλιοειδούς 4 τμημάτων (προαιρετικός συνεστιακός φωτισμός) ΔΙΑΠΕΡΑΣΤΟΣ ΦΩΤΙΣΜΟΣ: LED (προαιρετικά τηλεκεντρικός) ΒΟΗΘΗΤΙΚΟ ΣΗΜΕΙΟΘΕΤΗΣΗΣ: Δείκτης laser ΜΕΓΙΣΤΟ ΦΟΡΤΙΟ ΤΡΑΠΕΖΙΟΥ: 20 kg ΠΕΡΙΕΧΟΜΕΝΑ ΠΑΡΑΔΟΣΗΣ: QZW1, 23" οθόνη αφής, λογισμικό M3, πιστοποιητικό διακρίβωσης, εγχειρίδιο χρήσης Εφαρμογές: Η σειρά QZW1 σας υποστηρίζει σε υψηλής ακρίβειας και επαναλαμβανόμενες μετρήσεις σύνθετων τεμαχίων κάθε υλικού. Μέσω των πολυάριθμων επιλογών, όπως φακοί ζουμ, διαφορετικά μήκη άξονα Z και ποικιλία διαστάσεων μετρητικού τραπεζιού, το QZW1 καλύπτει όλες τις απαιτήσεις μέτρησης σύμφωνα με τις ανάγκες των εξαρτημάτων σας.