Ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης (PC-SEM)

Jeol JSM-6490 Bruker XFlash Detektor

Εδώ σας προσφέρουμε ένα ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης Jeol.

Ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης Jeol JSM-6490 (PC-SEM)

Σύγχρονο, υψηλής ανάλυσης, ψηφιακό ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης
με νεοαναπτυγμένη ηλεκτρονική οπτική και διαισθητική,
γραφική διεπαφή χρήστη (GUI) υπό Microsoft WindowsXP Professional.

Εύρος μεγέθυνσης: 5 X - 300.000 X
Τάση επιτάχυνσης 0,3 - 30 kV
Κάθοδος από βολφράμιο (προαιρετική κάθοδος LaB6)
Μεγάλη, πλήρως μηχανοκίνητη τράπεζα δείγματος με έκκεντρο
κλίση, συμπ.
Γραφική πλοήγηση στη θήκη δείγματος
Εύκολη πλοήγηση στο δείγμα με κλικ στο κέντρο του ζουμ
Πλοήγηση ελεγχόμενη από το πεδίο εικόνας μέσω 2 πλοηγών
Πλοήγηση με σχετικές συντεταγμένες
Αποθήκευση και επανεκκίνηση των θέσεων του δείγματος
Ρυθμιζόμενη blldschnittswelses μετακίνηση της βάσης δείγματος
Διόρθωση πεδίου κατά την περιστροφή μέσω ελεγχόμενου από υπολογιστή ευκεντρικού
έκκεντρη περιστροφή
Διόρθωση πεδίου εικόνας κατά την κλίση μέσω ελεγχόμενης από υπολογιστή
ελεγχόμενης έκκεντρης κλίσης
Υπολογισμός της πιθανής γωνίας κλίσης με βάση το
γεωμετρία του δείγματος
αυτόματη παρακολούθηση της εστίασης κατά τη μετακίνηση του δείγματος σε
δείγματος στον άξονα Ζ
Έξυπνοι οριακοί διακόπτες για τους μηχανοκίνητους άξονες

Μετακίνηση του σταδίου του δείγματος:
Χ=125mm
Y=100mm
z= 5 έως 80 mm (συνεχώς)
T= -10°C έως + 90°C
R= 360°C (ατελείωτο)
Δευτερογενής ανιχνευτής ηλεκτρονίων για λειτουργία σε υψηλό κενό
Ο νέος, υπερκονικός αντικειμενικός φακός εγγυάται την υψηλότερη εικόνα
ανάλυση ακόμη και σε μεγάλες γωνίες κλίσης
Εγγυημένη ανάλυση Στην εικόνα SE: 3 nm στα 30 kV και
15 nm σε 1 kV
Dwodpfemn Rcqox Aacsc
Ταυτόχρονη απεικόνιση ζωντανής εικόνας πολλών ανιχνευτών
Εύκολη πλοήγηση στο δείγμα με το Cllck Centre Zoom
Ισχυρές λειτουργίες μέτρησης εικόνας
Λειτουργία ταινίας για την καταγραφή δυναμικών διεργασιών
Ευέλικτος θάλαμος δειγμάτων με πολυάριθμες
ελεύθερες φλάντζες, π.χ. για EDX, WDX,
EBSD, καθοδοφωταύγεια κ.λπ.
Σύστημα άντλησης χαμηλής συντήρησης και χαμηλής φθοράς, αθόρυβο
αποτελούμενο από αντλία υποστήριξης, αντλία διάχυσης υψηλής ελαστικότητας χωρίς κραδασμούς
και ηλεκτρομαγνητικό έλεγχο βαλβίδας
Εκτεταμένη προστασία από σφάλματα κατά της ελαττωματικής λειτουργίας
και αστοχία εξωτερικών μέσων
Εργονομικό, ρυθμιζόμενο καθ' ύψος τραπέζι συστήματος
Κιτ εκκίνησης REM αποτελούμενο από 2 υποδοχείς δειγμάτων,
σετ εργαλείων και 6 εφεδρικές καθόδους

Πρόσθετος εξοπλισμός

2x ΜΡ-43100 (TMP)

Τουρμπομοριακή αντλία
αντί της τυπικής αντλίας διάχυσης
Όταν χρησιμοποιείται μια στροβιλομοριακή αντλία, το νερό ψύξης δεν είναι πλέον
δεν απαιτείται πλέον νερό ψύξης για τη λειτουργία του SEM.

Περαιτέρω εξοπλισμός:

PC για τον έλεγχο του SEM
με οθόνη TFT

ΟΧ200 Σύστημα EDX Bruker Quantax 200 EXTENDED

Σύστημα ανάλυσης ακτίνων Χ με ενεργειακή διασπορά χωρίς άζωτο.
Συμπερ:

SDD ανιχνευτή με ενεργειακή ανάλυση 127 eV ή καλύτερη.
Ανίχνευση όλων των στοιχείων από το βόριο
Χωρίς κραδασμούς, χωρίς συντήρηση. Ψύξη Peltier (χωρίς άζωτο)
Επεξεργαστής παλμών
Οθόνη TFT
Μέτρηση φασμάτων και στοιχειακή αποσύνθεση
Πλήρως αυτόματη, ποσοτική, χωρίς πρότυπα
στοιχειακή ανάλυση
Λήψη εικόνας
Εξαιρετικά γρήγορη ποιοτική σάρωση LIneScan
Υπερταχεία ποιοτική χαρτογράφηση στοιχείων
Σύστημα διαχείρισης και αρχειοθέτησης δεδομένων
Δημιουργία εκθέσεων και εξαγωγή αποτελεσμάτων
Επικοινωνία δεδομένων
Εγκατάσταση και εκπαίδευση
HyperMap
Ανάλυση πολλαπλών σημείων

Ανιχνευτής Bruker xFlash (SDD) με μονάδα επεξεργασίας σήματος SVE III

Τύπος: Jeol JSM-6490

Πεδίο παράδοσης: (Βλέπε φωτογραφίες)

Κατάσταση: μεταχειρισμένο / χρησιμοποιημένο

(

Η διαφήμιση μεταφράστηκε αυτόματα και ενδέχεται να περιέχει ορισμένα σφάλματα μετάφρασης.