Ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης (PC-SEM)Jeol
JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
Ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης (PC-SEM)
Jeol
JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
σταθερή τιμή δεν συμπεριλαμβάνεται ΦΠΑ
35.000 €
Κατάσταση
Μεταχειρισμένο
Τοποθεσία
Borken 

Προβολή φωτογραφιών
Εμφάνιση χάρτη
Στοιχεία για το μηχάνημα
- Περιγραφή μηχανήματος:
- Ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης (PC-SEM)
- Κατασκευαστής:
- Jeol
- Μοντέλο:
- JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
- Κατάσταση:
- πολύ καλή (μεταχειρισμένο)
Τιμή & Τοποθεσία
σταθερή τιμή δεν συμπεριλαμβάνεται ΦΠΑ
35.000 €
- Τοποθεσία:
- Einsteinstraße 8a, 46325 Borken, Deutschland

Κλήση
Λεπτομέρειες προσφοράς
- ID Καταχώρησης:
- A108-74957
- Αριθμός Αναφοράς:
- 23543
- Τελευταία ενημέρωση:
- στις 18.12.2025
Περιγραφή
Τύπος: Jeol JSM-6490
Jeol JSM-6490 Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Σάρωσης (PC-SEM)
Σύγχρονο, υψηλής ανάλυσης, ψηφιακό ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης με νεοσχεδιασμένη ηλεκτρονική οπτική και διαισθητικό, γραφικό περιβάλλον χρήστη (GUI) σε Microsoft Windows XP Professional.
Εξοπλισμός συσκευής που περιλαμβάνει τα παρακάτω χαρακτηριστικά:
Εύρος μεγέθυνσης: 5 X - 300.000 X
Τάση επιτάχυνσης: 0,3 - 30 kV
Κάθοδος με νήμα βολφραμίου (LaB6 κατόπιν επιλογής)
Μεγάλο, πλήρως μηχανοκίνητο τραπέζι δείγματος με εκκεντρική κλίση, συμπεριλαμβανομένου γραφικής πλοήγησης στον φορέα δείγματος
Εύκολη πλοήγηση δείγματος με Click-Center-Zoom
Πλοήγηση μέσω εικόνας με 2 πλοηγούς
Σχετική πλοήγηση συντεταγμένων
Αποθήκευση και ανάκληση θέσεων δείγματος
Ρυθμιζόμενο εύρος εικόνας της βάσης δείγματος
Διόρθωση πεδίου εικόνας κατά την περιστροφή μέσω υπολογιστή για εκκεντρική περιστροφή
Διόρθωση πεδίου εικόνας κατά την κλίση μέσω υπολογιστή για εκκεντρική κλίση
Υπολογισμός της δυνατής γωνίας κλίσης με βάση τη γεωμετρία του δείγματος
Αυτόματη παρακολούθηση εστίασης κατά την κίνηση του δείγματος στον άξονα Z
Έξυπνοι διακόπτες ορίου για τους μηχανοκίνητους άξονες
Διαδρομή τραπεζιού δείγματος:
x=125mm
y=100mm
z=5 έως 80 mm (συνεχώς μεταβαλλόμενο)
T = -10°C έως +90°C
R = 360°C (ατέρμονη περιστροφή)
Ανιχνευτής δευτερογενών ηλεκτρονίων για λειτουργία σε υψηλό κενό
Καινοτόμος, υπερκωνικός φακός αντικειμένου που εγγυάται την υψηλότερη ανάλυση εικόνας ακόμη και σε μεγάλες γωνίες κλίσης
Εγγυημένη ανάλυση στην εικόνα SE: 3 nm στα 30 kV και 15 nm στα 1 kV
Ταυτόχρονη απεικόνιση ζωντανής εικόνας από πολλούς ανιχνευτές
Εύκολη πλοήγηση δείγματος με χρήση Click-Center-Zoom
Ισχυρές λειτουργίες μέτρησης εικόνων
Λειτουργία εγγραφής βίντεο για δυναμικές διεργασίες
Ευέλικτος θάλαμος δειγμάτων με πολλές δυνατότητες επεκτάσεων: ελεύθερα φλαντζώματα π.χ. για EDX, WDX, EBSD, καθοτοφωταύγεια κ.ά.
Σύστημα αντλίας χαμηλής συντήρησης και χαμηλού θορύβου, αποτελούμενο από προαντλία, υψηλής απόδοσης διάχυσης χωρίς δονήσεις και ηλεκτρομαγνητικό σύστημα βαλβίδων
Εκτενής προστασία από λανθασμένη χρήση και διακοπή εξωτερικών μέσων
Εργονομικό, ρυθμιζόμενο κατά ύψος τραπέζι συστήματος
REM-Starterkit που αποτελείται από 2 φορείς δειγμάτων, σετ εργαλείων και 6 ανταλλακτικές καθόδους
Πρόσθετος εξοπλισμός:
Τουρμπομοριακή αντλία αντί της στάνταρ διάχυσης
Όταν χρησιμοποιείται τουρμπομοριακή αντλία, το SEM δεν χρειάζεται πλέον ψυκτικό νερό για τη λειτουργία.
Περαιτέρω εξοπλισμός SEM:
PC για τον έλεγχο του SEM περιλαμβάνει οθόνη TFT
ΟΧ200 Bruker Quantax 200 EDX-σύστημα EXTENDED
Το λογισμικό Bruker EDX θα μεταφερθεί στον νέο ιδιοκτήτη μετά την αγορά!
Ενεργειακά διασπειρόμενο σύστημα ανάλυσης ακτίνων Χ χωρίς άζωτο
Περιλαμβάνει:
Ανιχνευτή SDD με ενεργειακή ανάλυση 127 eV ή καλύτερη
Ανίχνευση όλων των στοιχείων από βόριο και άνω
Αθόρυβο, χωρίς συντήρηση, ψύξη Peltier (χωρίς άζωτο)
Επεξεργαστής παλμών
Gjdomn Rcqopfx Abrebg
Οθόνη TFT
Μέτρηση φασμάτων και ταυτοποίηση στοιχείων
Πλήρως αυτόματη, ποσοτική, χωρίς πρότυπο ανάλυση στοιχείων
Εισαγωγή εικόνας
Υπεργρήγορη ποιοτική γραμμική σάρωση
Υπεργρήγορη ποιοτική χαρτογράφηση στοιχείων
Σύστημα διαχείρισης και αρχειοθέτησης δεδομένων
Δημιουργία αναφορών και παραγωγή αποτελεσμάτων
Επικοινωνία δεδομένων
Εγκατάσταση και εκπαίδευση
HyperMap
Ανάλυση πολλαπλών σημείων
Ανιχνευτής Bruker xFlash (SDD) με μονάδα επεξεργασίας σήματος SVE ΙΙΙ
Περιεχόμενα παράδοσης: (βλέπε φωτογραφίες)
Κατάσταση: μεταχειρισμένο / used
(Ενδέχεται να υπάρξουν αλλαγές και σφάλματα στα τεχνικά δεδομένα, επιφυλάσσεται κάθε δικαίωμα!)
Η διαφήμιση μεταφράστηκε αυτόματα και ενδέχεται να περιέχει ορισμένα σφάλματα μετάφρασης.
Jeol JSM-6490 Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Σάρωσης (PC-SEM)
Σύγχρονο, υψηλής ανάλυσης, ψηφιακό ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης με νεοσχεδιασμένη ηλεκτρονική οπτική και διαισθητικό, γραφικό περιβάλλον χρήστη (GUI) σε Microsoft Windows XP Professional.
Εξοπλισμός συσκευής που περιλαμβάνει τα παρακάτω χαρακτηριστικά:
Εύρος μεγέθυνσης: 5 X - 300.000 X
Τάση επιτάχυνσης: 0,3 - 30 kV
Κάθοδος με νήμα βολφραμίου (LaB6 κατόπιν επιλογής)
Μεγάλο, πλήρως μηχανοκίνητο τραπέζι δείγματος με εκκεντρική κλίση, συμπεριλαμβανομένου γραφικής πλοήγησης στον φορέα δείγματος
Εύκολη πλοήγηση δείγματος με Click-Center-Zoom
Πλοήγηση μέσω εικόνας με 2 πλοηγούς
Σχετική πλοήγηση συντεταγμένων
Αποθήκευση και ανάκληση θέσεων δείγματος
Ρυθμιζόμενο εύρος εικόνας της βάσης δείγματος
Διόρθωση πεδίου εικόνας κατά την περιστροφή μέσω υπολογιστή για εκκεντρική περιστροφή
Διόρθωση πεδίου εικόνας κατά την κλίση μέσω υπολογιστή για εκκεντρική κλίση
Υπολογισμός της δυνατής γωνίας κλίσης με βάση τη γεωμετρία του δείγματος
Αυτόματη παρακολούθηση εστίασης κατά την κίνηση του δείγματος στον άξονα Z
Έξυπνοι διακόπτες ορίου για τους μηχανοκίνητους άξονες
Διαδρομή τραπεζιού δείγματος:
x=125mm
y=100mm
z=5 έως 80 mm (συνεχώς μεταβαλλόμενο)
T = -10°C έως +90°C
R = 360°C (ατέρμονη περιστροφή)
Ανιχνευτής δευτερογενών ηλεκτρονίων για λειτουργία σε υψηλό κενό
Καινοτόμος, υπερκωνικός φακός αντικειμένου που εγγυάται την υψηλότερη ανάλυση εικόνας ακόμη και σε μεγάλες γωνίες κλίσης
Εγγυημένη ανάλυση στην εικόνα SE: 3 nm στα 30 kV και 15 nm στα 1 kV
Ταυτόχρονη απεικόνιση ζωντανής εικόνας από πολλούς ανιχνευτές
Εύκολη πλοήγηση δείγματος με χρήση Click-Center-Zoom
Ισχυρές λειτουργίες μέτρησης εικόνων
Λειτουργία εγγραφής βίντεο για δυναμικές διεργασίες
Ευέλικτος θάλαμος δειγμάτων με πολλές δυνατότητες επεκτάσεων: ελεύθερα φλαντζώματα π.χ. για EDX, WDX, EBSD, καθοτοφωταύγεια κ.ά.
Σύστημα αντλίας χαμηλής συντήρησης και χαμηλού θορύβου, αποτελούμενο από προαντλία, υψηλής απόδοσης διάχυσης χωρίς δονήσεις και ηλεκτρομαγνητικό σύστημα βαλβίδων
Εκτενής προστασία από λανθασμένη χρήση και διακοπή εξωτερικών μέσων
Εργονομικό, ρυθμιζόμενο κατά ύψος τραπέζι συστήματος
REM-Starterkit που αποτελείται από 2 φορείς δειγμάτων, σετ εργαλείων και 6 ανταλλακτικές καθόδους
Πρόσθετος εξοπλισμός:
Τουρμπομοριακή αντλία αντί της στάνταρ διάχυσης
Όταν χρησιμοποιείται τουρμπομοριακή αντλία, το SEM δεν χρειάζεται πλέον ψυκτικό νερό για τη λειτουργία.
Περαιτέρω εξοπλισμός SEM:
PC για τον έλεγχο του SEM περιλαμβάνει οθόνη TFT
ΟΧ200 Bruker Quantax 200 EDX-σύστημα EXTENDED
Το λογισμικό Bruker EDX θα μεταφερθεί στον νέο ιδιοκτήτη μετά την αγορά!
Ενεργειακά διασπειρόμενο σύστημα ανάλυσης ακτίνων Χ χωρίς άζωτο
Περιλαμβάνει:
Ανιχνευτή SDD με ενεργειακή ανάλυση 127 eV ή καλύτερη
Ανίχνευση όλων των στοιχείων από βόριο και άνω
Αθόρυβο, χωρίς συντήρηση, ψύξη Peltier (χωρίς άζωτο)
Επεξεργαστής παλμών
Gjdomn Rcqopfx Abrebg
Οθόνη TFT
Μέτρηση φασμάτων και ταυτοποίηση στοιχείων
Πλήρως αυτόματη, ποσοτική, χωρίς πρότυπο ανάλυση στοιχείων
Εισαγωγή εικόνας
Υπεργρήγορη ποιοτική γραμμική σάρωση
Υπεργρήγορη ποιοτική χαρτογράφηση στοιχείων
Σύστημα διαχείρισης και αρχειοθέτησης δεδομένων
Δημιουργία αναφορών και παραγωγή αποτελεσμάτων
Επικοινωνία δεδομένων
Εγκατάσταση και εκπαίδευση
HyperMap
Ανάλυση πολλαπλών σημείων
Ανιχνευτής Bruker xFlash (SDD) με μονάδα επεξεργασίας σήματος SVE ΙΙΙ
Περιεχόμενα παράδοσης: (βλέπε φωτογραφίες)
Κατάσταση: μεταχειρισμένο / used
(Ενδέχεται να υπάρξουν αλλαγές και σφάλματα στα τεχνικά δεδομένα, επιφυλάσσεται κάθε δικαίωμα!)
Η διαφήμιση μεταφράστηκε αυτόματα και ενδέχεται να περιέχει ορισμένα σφάλματα μετάφρασης.
Προμηθευτής
Σημείωση: Εγγραφείτε δωρεάν ή συνδεθείτε, για να αποκτήσετε πρόσβαση σε όλες τις πληροφορίες.
Εγγεγραμμένο μέλος από το: 2012
Υποβολή αιτήματος
Τηλέφωνο & Φαξ
+49 2861 ... αγγελίες
Αυτές οι αγγελίες μπορεί επίσης να σας ενδιαφέρουν.
Μικρή αγγελία
Zuchwil
1.467 km
Κλίβανος θερμικής επεξεργασίας Retort
MUT360/400-1150
MUT360/400-1150
Μικρή αγγελία
Mainz
1.618 km
ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης (REM)
ZeissXB 350
ZeissXB 350
Μικρή αγγελία
Ουγγαρία
920 km
Κάθετο κέντρο κατεργασίας
HAASOM-2A
HAASOM-2A
Μικρή αγγελία
Freising
1.313 km
Ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης εκπομπής πεδίου
JEOLJSM-IT800is
JEOLJSM-IT800is
Μικρή αγγελία
Borken
1.833 km
ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης
ZeissEVO 50 XVP Oxford EDX Xplore 30
ZeissEVO 50 XVP Oxford EDX Xplore 30
Μικρή αγγελία
Freising
1.313 km
Ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης (επιτραπέζιο)
JEOLJCM-7000
JEOLJCM-7000
Μικρή αγγελία
Duxford
2.209 km
Φασματόμετρο μάζας Bruker Maldi-Tof Microflex
BrukerMicroflex
BrukerMicroflex
Μικρή αγγελία
Γαλλία
1.786 km
Εργαλειομηχανή
DMGULTRASONIC 10/ DENTAL 10
DMGULTRASONIC 10/ DENTAL 10
Μικρή αγγελία
Ουγγαρία
920 km
Κάθετο κέντρο κατεργασίας
DMGULTRASONIC 10
DMGULTRASONIC 10
Μικρή αγγελία
Duxford
2.209 km
Αντλία ανιχνευτή αερίων Drager Accuro
DragerAccuro
DragerAccuro
Η αγγελία σας διαγράφηκε με επιτυχία
Παρουσιάστηκε σφάλμα































































































































